разработка и апробация в серии компьютерных экспериментов методик моделирования процессов изменения свойств приборных структур и интегральных микросхем (ИМС) специального назначения под воздействием потоков нейтронов, протонов и электронов, ионизирующего излучения рентгеновского и нуклидного 60Со источника, а также изменения температуры окружающей среды.
Задачи:
- осуществить выбор конструктивных решений приборных структур элементно-компонентной базы ИМС специального назначения и технологических операций их изготовления;
- осуществить выбор и настройку методов и моделей, реализованных в специальном программном обеспечении, которые описывают технологический маршрут изготовления и электрические характеристики приборных структур и ИМС специального назначения;
- провести серию компьютерных расчетов электрических характеристик приборных структур и ИМС специального назначения с учетом влияния потока электронов, протонов и нейтронов;
- выполнить компьютерное моделирование электрических характеристик приборных структур и ИМС специального назначения, подверженных воздействию ионизирующего излучения рентгеновского и нуклидного 60Со источника.
результаты НИР актуальны для использования при технологическом и приборном моделировании приборных структур и ИМС специального назначения.
в результате выполнения НИР будут разработаны методы моделирования воздействия проникающего излучения и температуры на приборные структуры и ИМС специального назначения.
промышленность, микроэлектроника.
учреждение образования "Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники"
Научно-исследовательская часть
тел: +375 17 293 80 55
e-mail: science@bsuir.by